Sekcja 1
Zagadnienia ogólne teorii błędów
pomiarów: szacowanie błędów oraz
sposoby ich wyrażania w systemach
pomiarowych, szczególnie w pomiarach
dynamicznych i wieloparametrowych.

Sekcja 2
Zagadnienia kalibracji i legalizacji
narzędzi pomiarowych: laboratoria
akredytowane badawcze i pomiarowe
oraz zagadnienia metrologii prawnej.

Sekcja 3
Zastosowania nowych technik i
technologii w miernictwie: przyrządy
wirtualne, mikroprocesorowe, czujniki
inteligentne, sieci komputerowe itp.

Sekcja 4
Nowe sposoby przetwarzania danych
pomiarowych i prezentacji wyników
pomiarów: splajny, fraktale, sieci
neuronowe, zbiory rozmyte itp.